Moderne IC-Designs nutzen zunehmend unkonventionelle Strukturen, was die Extraktion von Widerständen komplexer macht und traditionelle Methoden herausfordert. Neue Frakturierungsansätze wie 1D-, 2D- und fortschrittliche Techniken ermöglichen eine genauere Modellierung parasitärer Widerstände, um Designgenauigkeit, Leistung und Zuverlässigkeit sicherzustellen.