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Hochgeschwindigkeits-Interface-Tests

von Dave Armstrong, Director of Business Development, Advantest America, Inc. Während die Geschwindigkeit des Internet-Backbones weiter ansteigt, nimmt auch die Geschwindigkeit der Schnittstellen zu Bauteilen von Cloudkomponenten weiter zu. Da viele dieser Schnittstellen-, Server- und KI-Bauteile sowohl auf Datenraten von 112 Gbps als auch auf heterogene Multi-Chip-Integrationen umgestellt werden, steht die Branche einem erhöhten Bedarf an Geschwindigkeitstests gegenüber, um voll funktionsfähige Bauteile zu identifizieren (KGDs – Known Good Dies). Bislang gab es noch keine elegante, effiziente ATE-basierte Lösung zur Durchführung dieser Tests. 2018 starteten Advantest und MultiLane, Inc., ein führender Anbieter von Testinstrumenten für Hochgeschwindigkeitsinterfaces (HSIO), eine Zusammenarbeit, um gemeinsam eine auf einer einzigen Plattform basierende Lösung zu entwickeln, die die Fähigkeiten und Qualitäten beider Unternehmen nutzt.Das Konzept der gemeinsamen Lösung ist denkbar einfach: Vorhandene MultiLane Instrumente werden auf einen Formfaktor portiert, der mit dem Advantest V93000 Testkopf Erweiterungsrahmen kompatibel ist. Wie Abbildung 1 zeigt, besteht die kombinierte Lösung aus einem Advantest V93000-Tester und einer Twinning-Testkopferweiterung, der MultiLane Strom, Kühlung und eine Backplane für das HSIO-Card Cage hinzufügt. MultiLane setzt vorhandene Standardinstrumente ein und passt …