von Dave Armstrong, Director of Business Development, Advantest America, Inc.
Während die Geschwindigkeit des Internet-Backbones weiter ansteigt, nimmt auch die Geschwindigkeit der Schnittstellen zu Bauteilen von Cloudkomponenten weiter zu. Da viele dieser Schnittstellen-, Server- und KI-Bauteile sowohl auf Datenraten von 112 Gbps als auch auf heterogene Multi-Chip-Integrationen umgestellt werden, steht die Branche einem erhöhten Bedarf an Geschwindigkeitstests gegenüber, um voll funktionsfähige Bauteile zu identifizieren (KGDs – Known Good Dies). Bislang gab es noch keine elegante, effiziente ATE-basierte Lösung zur Durchführung dieser Tests.
2018 starteten Advantest und MultiLane, Inc., ein führender Anbieter von Testinstrumenten für Hochgeschwindigkeitsinterfaces (HSIO), eine Zusammenarbeit, um gemeinsam eine auf einer einzigen Plattform basierende Lösung zu entwickeln, die die Fähigkeiten und Qualitäten beider Unternehmen nutzt.
Das Konzept der gemeinsamen Lösung ist denkbar einfach: Vorhandene MultiLane Instrumente werden auf einen Formfaktor portiert, der mit dem Advantest V93000 Testkopf Erweiterungsrahmen kompatibel ist. Wie Abbildung 1 zeigt, besteht die kombinierte Lösung aus einem Advantest V93000-Tester und einer Twinning-Testkopferweiterung, der MultiLane Strom, Kühlung und eine Backplane für das HSIO-Card Cage hinzufügt. MultiLane setzt vorhandene Standardinstrumente ein und passt diese an den Formfaktor des V93000 Erweiterungsrahmens an. Der Einsatz vorhandener Instrumente trägt zu niedrigeren Testkosten bei und bietet gleichzeitig eine bereits bewährte Fähigkeit – lediglich nun auch in einer ATE-Umgebung.
Wenn man die Einzelheiten weiter vertieft, veranschaulicht Abbildung 2 den Aufbau der Lösung. Auf der Unterseite befindet sich eine Grundplatine (family board) – eine von zwei Platinen im Aufbau – die der Kunde in der Regel einmal kaufen und für eine Vielzahl von Testanforderungen wiederverwenden kann. Diese Grundplatine leitet die verwendeten V93000-Testersignale zu den Pogo-Block-Segmenten, die sich im unmittelbar darüber befindlichen HSIO-Card Cage befinden, die dann wiederum zum DUT spezifischen Loadboard am oberen Ende des Aufbaus geleitet werden. Mehrere Instrumentaufnahmen befinden sich direkt unter dem Loadboard und nahe an den Sockeln des Prüflings und ermöglichen so die kürzeste mögliche Verbindungsleitung über eine hoch performante Koaxialverkabelung. Die Anzahl der Kassetten kann auf bis zu 32 Digitalspeicher-Oszilloskop- (DSO) oder 32-Bit-Fehlerraten-Tester- (BERT) Kanäle erweitert werden.
